Sonda XF-U 2.5-2 bliskiego pola została zaprojektowana do selektywnych pomiarów prądów RF w ścieżkach przewodzących, złączach komponentów, komponentach SMD i szpilkach IC. Głowica sondy ma magnetycznie aktywną szczelinę z ok. Szerokość 0,5 mm. Do użycia głowica powinna być umieszczona bezpośrednio na zmierzonym obiekcie. XF-U 2.5-2 to pasywna sonda bliskiego pola, która jest zaprojektowana dla komponentów SMD (PIN). Sonda bliskiego pola jest niewielka i przydatna. Ma prąd osłabiającą pochwę, a zatem jest osłonięty elektrycznie. Można go podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Sonda pola H ma wewnętrzną oporność końcową.
Sonda XF-U 2.5-2 bliskiego pola została zaprojektowana do selektywnych pomiarów prądów RF w ścieżkach przewodzących, złączach komponentów, komponentach SMD i szpilkach IC. Głowica sondy ma magnetycznie aktywną szczelinę z ok. Szerokość 0,5 mm. Do użycia głowica powinna być umieszczona bezpośrednio na zmierzonym obiekcie. XF-U 2.5-2 to pasywna sonda bliskiego pola, która jest zaprojektowana dla komponentów SMD (PIN). Sonda bliskiego pola jest niewielka i przydatna. Ma prąd osłabiającą pochwę, a zatem jest osłonięty elektrycznie. Można go podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Sonda pola H ma wewnętrzną oporność końcową.