Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz
  • Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz
  • Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz

Zdjęcia mają charakter wyłącznie informacyjny. Zobacz specyfikację produktu

proszę używać znaków łacińskich

Producent: Langer EMV-Technik

Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz

  • XFS-E 10

Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz

Opis

Elektroda w głowicy sondy skanującej XFS-E 10 ma szerokość około 0,2 mm. Dzięki tej sondzie można zlokalizować nawet najmniejsze źródła pola elektrycznego (E-field), np. ścieżki przewodzące o szerokości 0,1 mm lub pojedyncze piny w układach scalonych (IC) z wieloma pinami. Do pomiaru sonda pola elektrycznego jest umieszczana bezpośrednio na mierzonym obiekcie.

Sonda XFS-E 10 to pasywna sonda pola bliskiego. Zazwyczaj głowica sondy jest umieszczana bezpośrednio na mierzonym obiekcie (wysoka siła pola elektrycznego). Posiada osłonę tłumiącą prądy i jest ekranowana elektrycznie. Może być podłączona do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Sonda skanująca pola magnetycznego posiada wewnętrzną rezystancję zakończeniową.

Parametry techniczne

Zakres częstotliwości 30 MHz ... 6 GHz
Rozdzielczość ≈ 0.2 mm
Wymiary głowicy sondy ≈ (0.5 x 2) mm
Złącze - wyjście SMA, male, jack
Mniej
Czytaj więcej

Wyślij zapytanie ofertowe

Jesteś zainteresowany tym produktem? Potrzebujesz dodatkowych informacji lub indywidualnej wyceny?

Skontaktuj się z nami
ZAPYTAJ O PRODUKT close
Dziękujemy za przesłanie wiadomości. Odpowiemy możliwie najszybciej.
ZAPYTAJ O PRODUKT close
Przeglądaj
wyślij zapytanie

Dodaj do schowka

Musisz być zalogowany/a

Sonda skanująca XFS-E 10 30 MHz do 6 GHz

Opis

Elektroda w głowicy sondy skanującej XFS-E 10 ma szerokość około 0,2 mm. Dzięki tej sondzie można zlokalizować nawet najmniejsze źródła pola elektrycznego (E-field), np. ścieżki przewodzące o szerokości 0,1 mm lub pojedyncze piny w układach scalonych (IC) z wieloma pinami. Do pomiaru sonda pola elektrycznego jest umieszczana bezpośrednio na mierzonym obiekcie.

Sonda XFS-E 10 to pasywna sonda pola bliskiego. Zazwyczaj głowica sondy jest umieszczana bezpośrednio na mierzonym obiekcie (wysoka siła pola elektrycznego). Posiada osłonę tłumiącą prądy i jest ekranowana elektrycznie. Może być podłączona do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Sonda skanująca pola magnetycznego posiada wewnętrzną rezystancję zakończeniową.

Parametry techniczne

Zakres częstotliwości 30 MHz ... 6 GHz
Rozdzielczość ≈ 0.2 mm
Wymiary głowicy sondy ≈ (0.5 x 2) mm
Złącze - wyjście SMA, male, jack
Mniej
Czytaj więcej
Komentarze (0)